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Caracterización eléctrica de películas delgadas de SIO2 mediante esprectoscopia de electrones auger

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Castro González, Antonio Jesús de (2002) Caracterización eléctrica de películas delgadas de SIO2 mediante esprectoscopia de electrones auger. [Tesis]

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Tipo de documento:Tesis
Palabras clave:Física del estado sólido
Materias:Ciencias > Física > Física del estado sólido
Código ID:1886
Depositado:25 Oct 2004
Última Modificación:06 Feb 2014 07:32

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