Biblioteca de la Universidad Complutense de Madrid

Caracterización eléctrica de películas delgadas de SIO2 mediante esprectoscopia de electrones auger

Impacto



Castro González, Antonio Jesús de (2002) Caracterización eléctrica de películas delgadas de SIO2 mediante esprectoscopia de electrones auger. [Tesis Doctoral]

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Tipo de documento:Tesis Doctoral
Palabras clave:Física del estado sólido
Materias:Ciencias > Física > Física del estado sólido
Código ID:1886
Depositado:25 Oct 2004
Última Modificación:06 Feb 2014 07:32

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