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Caracterización eléctrica de películas delgadas de SIO2 mediante esprectoscopia de electrones auger

Impacto




Castro González, Antonio Jesús de (2002) Caracterización eléctrica de películas delgadas de SIO2 mediante esprectoscopia de electrones auger. [Thesis]

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Item Type:Thesis
Uncontrolled Keywords:Física del estado sólido
Subjects:Sciences > Physics > Solid state physics
ID Code:1886
Deposited On:25 Oct 2004
Last Modified:06 Feb 2014 07:32

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