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Anomalous resistivity at the structural phase transition of polycrystalline SnTe

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Grassie, Alexander D. C. y Agapito Serrano, Juan Andrés y Gonzalez Espeso, Pablo (1979) Anomalous resistivity at the structural phase transition of polycrystalline SnTe. Journal of physics C: Solid state physics, 12 (24). pp. 925-927. ISSN 0022-3719

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URL Oficial: http://iopscience.iop.org/0022-3719/12/24/001


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http://iopscience.iop.orgEditorial


Resumen

An excess resistivity has been observed in thin film polycrystalline samples of SnTe with low carrier concentration and is attributed to the additional scattering due to the phonon softening associated with the structural phase transition.


Tipo de documento:Artículo
Información Adicional:

@ 1979 The Institute of Physics

Palabras clave:Resistivity; Semiconductors; SnTe; Temperature dependence
Materias:Ciencias > Física > Electrónica
Ciencias > Física > Física de materiales
Código ID:40611
Depositado:20 Dic 2016 12:06
Última Modificación:20 Dic 2016 12:06

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