Biblioteca de la Universidad Complutense de Madrid

Caracterización mediante técnicas de microscopía electrónica (MEB y MET) del anodizado y sellado del aluminio: comportamiento en la exposición a la atmósfera

Impacto



Bartolomé García, María Jesús (2008) Caracterización mediante técnicas de microscopía electrónica (MEB y MET) del anodizado y sellado del aluminio: comportamiento en la exposición a la atmósfera. [Tesis Doctoral]

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Tipo de documento:Tesis Doctoral
Información Adicional:

Tesis de la Universidad Complutense de Madrid, Facultad de Ciencias Químicas, Departamento de Ciencia de los Materiales e Ingeniería Metalúrgica, leída el 05-06-2008

Directores (o tutores):
NombreEmail del director (o tutor)
González Fernández, José Antonio
López Serrano, Víctor
Palabras clave:Microscopía electrónica
Materias:Ciencias > Química > Metalurgia
Ciencias > Química > Materiales
Código ID:8309
Depositado:19 Dic 2008 09:11
Última Modificación:06 Feb 2014 08:03

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