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Caracterización mediante técnicas de microscopía electrónica (MEB y MET) del anodizado y sellado del aluminio: comportamiento en la exposición a la atmósfera

Bartolomé García, María Jesús (2008) Caracterización mediante técnicas de microscopía electrónica (MEB y MET) del anodizado y sellado del aluminio: comportamiento en la exposición a la atmósfera. [Thesis]

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Item Type:Thesis
Additional Information:

Tesis de la Universidad Complutense de Madrid, Facultad de Ciencias Químicas, Departamento de Ciencia de los Materiales e Ingeniería Metalúrgica, leída el 05-06-2008

Directors:
DirectorsDirector email
González Fernández, José Antonio
López Serrano, Víctor
Uncontrolled Keywords:Microscopía electrónica
Subjects:Sciences > Chemistry > Metallurgy
Sciences > Chemistry > Materials
ID Code:8309
Deposited On:19 Dec 2008 09:11
Last Modified:06 Feb 2014 08:03

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