Complutense University Library

E-Prints Complutense

Caracterización mediante técnicas de microscopía electrónica (MEB y MET) del anodizado y sellado del aluminio: comportamiento en la exposición a la atmósfera

Bartolomé García, María Jesús (2008) Caracterización mediante técnicas de microscopía electrónica (MEB y MET) del anodizado y sellado del aluminio: comportamiento en la exposición a la atmósfera. Tesis PhD.

[img]
Preview
PDF
60Mb
View download statistics for this eprint

Item Type:Thesis (PhD)
Additional Information:Tesis de la Universidad Complutense de Madrid, Facultad de Ciencias Químicas, Departamento de Ciencia de los Materiales e Ingeniería Metalúrgica, leída el 05-06-2008
Directors:
DirectorsDirector email
González Fernández, José Antonio
López Serrano, Víctor
Uncontrolled Keywords:Microscopía electrónica
Subjects:Sciences > Chemistry > Metallurgy
Sciences > Chemistry > Materials
ID Code:8309
Deposited On:19 Dec 2008 10:11
Last Modified:08 Apr 2011 10:21

Repository Staff Only: item control page