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Caracterización optoelectrónica de láminas de silicio implantadas con titanio (Optoelectronic characterization of titanium implanted silicon thin films)

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NOTA: Desde junio de 2009 hasta mayo de 2010 inclusive, algunas descargas se han contabilizado erróneamente por duplicado.
Los números entre paréntesis representan los países distintos desde los que se originaron las descargas.
Período	Descargas
2013 Abr	54	(11)
2013 Mar	25	(7)
2013 Feb	0	(0)
2013 Ene	23	(9)
2012 Dic	16	(5)
2012 Nov	21	(7)
2012 Oct	18	(6)
2012 Sep	15	(4)
2012 Ago	12	(4)
2012 Jul	17	(7)
2012 Jun	21	(9)
2012 May	26	(5)
2012 Abr	21	(8)
2012 Mar	18	(7)
2012 Feb	18	(7)
2012 Ene	19	(7)
2011 Dic	12	(6)
2011 Nov	21	(9)

Descargas por país (deducidas de la dirección IP solicitante) en todos los años

País		Descargas
	United States	113
	Spain	66
	Mexico	58
	Russian Federation	24
	Colombia	12
	Chile	12
	France	11
	China	8
	Peru	7
	Argentina	6
	Campus U.C.M.	5
	Venezuela	5
	Japan	5
	Panama	3
	Guatemala	3
	Brazil	2
	Ukraine	2
	Germany	2
	Ecuador	1
	Denmark	1
	Belgium	1
	El Salvador	1
	United Kingdom	1
	Bolivia	1
	Canada	1
	Paraguay	1
	Uruguay	1
	Puerto Rico	1
	Dominican Republic	1
	Portugal	1
	Europe	1
Total acumulado:		357	descargas de este eprint desde 31 países distintos

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