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Método óptico para la caracterización automática de defectos superficiales en hilos metálicos finos

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Historial de descargas de este eprint:

Período	Descargas
NOTA: Desde junio de 2009 hasta mayo de 2010 inclusive, algunas descargas se han contabilizado erróneamente por duplicado.
Los números entre paréntesis representan los países distintos desde los que se originaron las descargas.
2013 Abr	46	(9)
2013 Mar	40	(11)
2013 Feb	0	(0)
2013 Ene	56	(13)
2012 Dic	50	(11)
2012 Nov	59	(14)
2012 Oct	61	(14)
2012 Sep	59	(17)
2012 Ago	39	(13)
2012 Jul	38	(9)
2012 Jun	42	(12)
2012 May	34	(8)
2012 Abr	41	(10)
2012 Mar	26	(6)
2012 Feb	33	(6)
2012 Ene	33	(9)
2011 Dic	22	(6)
2011 Nov	24	(6)
2011 Oct	48	(11)
2011 Sep	30	(10)
2011 Ago	34	(9)
2011 Jul	53	(7)
2011 Jun	42	(11)
2011 May	55	(19)
2011 Abr	9	(4)
2011 Mar	13	(5)
2011 Feb	14	(3)
2011 Ene	38	(9)
2010 Dic	28	(10)
2010 Nov	30	(10)
2010 Oct	28	(8)
2010 Sep	12	(3)
2010 Ago	15	(3)
2010 Jul	26	(6)
2010 Jun	13	(4)
2010 May	25	(6)
2010 Abr	42	(8)
2010 Mar	32	(5)
2010 Feb	33	(6)
2010 Ene	35	(5)
2009 Dic	40	(7)
2009 Nov	29	(5)
2009 Oct	30	(4)
2009 Sep	40	(7)
2009 Ago	45	(6)
2009 Jul	48	(8)
2009 Jun	29	(8)
2009 May	13	(6)
2009 Abr	27	(12)
2009 Mar	29	(9)
2009 Feb	9	(6)
2009 Ene	2	(1)
2008 Dic	14	(8)
2008 Nov	18	(7)
2008 Oct	10	(4)
2008 Sep	4	(3)
2008 Ago	2	(1)
2008 Jul	3	(3)
2008 Jun	7	(1)
2008 May	4	(1)
2008 Abr	3	(2)
2008 Mar	5	(3)
2008 Feb	12	(1)
2008 Ene	6	(4)

Descargas por país (deducidas de la dirección IP solicitante) en Junio 2010

País		Descargas
	United States	6
	Campus U.C.M.	5
	Spain	1
	Peru	1
Total acumulado:		13	descargas de este eprint desde 4 países distintos

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El código original para la generación de estas estadísticas fue desarrollado en la Universidad de Melbourne. Posteriormente, fue modificado y adaptado por Christian McGee y Arthur Sale en la Universidad de Tasmania.