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Caracterización eléctrica de películas delgadas de SIO2 mediante esprectoscopia de electrones auger

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Castro González, Antonio Jesús de (2002) Caracterización eléctrica de películas delgadas de SIO2 mediante esprectoscopia de electrones auger. [Thesis]

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Item Type:Thesis
Uncontrolled Keywords:Física del estado sólido
Subjects:Sciences > Physics > Solid state physics
ID Code:1886
Deposited On:25 Oct 2004
Last Modified:12 Dec 2018 15:15

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