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Inyección de fallos para el análisis de la sensibilidad a los errores transitorios, “soft errors”, provocados por las radiaciones en circuitos integrados

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Velazco, Raoul (2014) Inyección de fallos para el análisis de la sensibilidad a los errores transitorios, “soft errors”, provocados por las radiaciones en circuitos integrados. In Ciclo de Conferencias de la Facultad de Informática, 21 de mayo de 2014, Sala de Grados de la Facultad de Informática de la Universidad Complutense de Madrid. (Submitted)

Official URL: http://complumedia.ucm.es/resultados.php?contenido=Q8zmMaBlHfj43vmPamF3CQ==|



Abstract

Los progresos en las tecnologías de fabricación de circuitos integrados se traducen en un aumento potencial de la sensibilidad a los efectos de las partículas (neutrones, protones, iones pesados…) presentes en el entorno en que funcionan. Los pulsos transitorios de corriente resultantes del impacto de una partícula energética en una zona sensible de un circuito son capaces de corromper el contenido de una o varias celdas memorias a un instante aleatorio, efecto llamado soft error. Los soft errors deben ser considerados para toda aplicación, cuyos errores puedan tener consecuencias críticas. La sensibilidad creciente a estos fenómenos es debida a dos principales factores: la carga cada vez más pequeña necesaria para definir los niveles lógicos y el número cada vez mayor de componentes básicos incluido en circuitos integrados fabricados en tecnologías avanzadas. La inyección de fallos de tipo soft error es una metodología que puede realizarse a diferentes niveles y que permite estimar la sensibilidad de un circuito e identificar los potenciales “talones de Aquiles”. En esta presentación esta problemática será descrita e ilustrada por métodos de inyección de fallos aplicables a circuitos complejos (procesadores…) antes de la fabricación (a nivel del modelo RTL) o directamente en la versión final del circuito utilizando una plataforma de test dedicada. El resultado final será la estimación de la sensibilidad del circuito o de la aplicación, para permitir tomar las decisiones que permitan evitar las consecuencias de los errores considerados.


Item Type:Conference or Workshop Item (Other)
Subjects:Sciences > Physics > Radioactivity
Sciences > Computer science > Integrated circuits
ID Code:25652
Deposited On:29 May 2014 12:49
Last Modified:29 May 2014 12:49

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