Study of charged defects in CdTe and CdHgTe by scanning electron and tunneling microscopy techniques

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Publication:
Study of charged defects in CdTe and CdHgTe by scanning electron and tunneling microscopy techniques

Publication Date

1998-03

Authors

Díaz-Guerra Viejo, Carlos

Scopus Author ID

Piqueras de Noriega, Javier

Publisher

Mezhdunarodnaya Kniga

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UCM subjects

Física de materiales

URI

https://hdl.handle.net/20.500.14352/59144

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