Amigo de la Huerga, Ángel y Palomar Trives, Carlos y Franco Peláez, Francisco Javier y López Calle, Isabel y Cervera, María Fe y Hernández Cachero, Antonio y Agapito Serrano, Juan Andrés (2013) Sistema autónomo de detección y almacenamiento de errores por sucesos aislados en SRAMs. In XX Seminario Anual de Automática, Electrónica Industrial e Instrumentación. Escuela Técnica Superior de Ingenieros Industriales. Universidad Politécnica de Madrid, pp. 1-6. ISBN 978-84-15302-60-5
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URL | Tipo de URL |
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http://saaei.org/edicion13/ | Institución |
http://saaei.org/edicion13/archivos/Libro_de_Actas_SAAEI_2013.pdf | SIN ESPECIFICAR |
Resumen
En esta contribución se explica el diseño, fabricación y verificación experimental de un sistema automático de lectura y escritura de memorias SRAM cuyo objeto es la determinación de la tasa de errores asociados a la acción de los rayos cósmicos e impurezas radiactivas en esa tecnología de fabricación. Se ha concebido este sistema para que se pudiera construir en una placa de reducidas dimensiones y que, de este modo, pudiera transportarse en la cabina de un avión durante vuelos comerciales.
Resumen (otros idiomas)
Tipo de documento: | Sección de libro |
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Información Adicional: | En G Drive P1-MIC1.pdf Este trabajo fue financiado parcialmente por el proyecto MCINN AYA2009-13300-C03-03 y por UCM-BSCH. |
Palabras clave: | Fiabilidad, Circuitos integrados, Sistemas autónomos |
Materias: | Ciencias > Física > Electrónica Ciencias > Física > Radiactividad Ciencias > Informática > Circuitos integrados |
Código ID: | 29170 |
Depositado: | 17 Mar 2015 16:49 |
Última Modificación: | 10 Dic 2018 14:58 |
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