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Amigo de la Huerga, Ángel and Palomar Trives, Carlos and Franco Peláez, Francisco Javier and López Calle, Isabel and Cervera, María Fe and Hernández Cachero, Antonio and Agapito Serrano, Juan Andrés (2013) Sistema autónomo de detección y almacenamiento de errores por sucesos aislados en SRAMs. In XX Seminario Anual de Automática, Electrónica Industrial e Instrumentación. Escuela Técnica Superior de Ingenieros Industriales. Universidad Politécnica de Madrid, pp. 1-6. ISBN 978-84-15302-60-5
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PDF
1MB |
Official URL: https://drive.google.com/a/ucm.es/folderview?id=0B42e6qwxso5WendQcDJWN2lNODQ&usp=sharing&tid=0B42e6qwxso5WUnMzS2xuLVVWTEk
| URL | URL Type |
|---|---|
| http://saaei.org/edicion13/ | Organisation |
| http://saaei.org/edicion13/archivos/Libro_de_Actas_SAAEI_2013.pdf | UNSPECIFIED |
Abstract
En esta contribución se explica el diseño, fabricación y verificación experimental de un sistema automático de lectura y escritura de memorias SRAM cuyo objeto es la determinación de la tasa de errores asociados a la acción de los rayos cósmicos e impurezas radiactivas en esa tecnología de fabricación. Se ha concebido este sistema para que se pudiera construir en una placa de reducidas dimensiones y que, de este modo, pudiera transportarse en la cabina de un avión durante vuelos comerciales.
Resumen (otros idiomas)
| Item Type: | Book Section |
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| Additional Information: | En G Drive P1-MIC1.pdf Este trabajo fue financiado parcialmente por el proyecto MCINN AYA2009-13300-C03-03 y por UCM-BSCH. |
| Uncontrolled Keywords: | Fiabilidad, Circuitos integrados, Sistemas autónomos |
| Subjects: | Sciences > Physics > Electronics Sciences > Physics > Radioactivity Sciences > Computer science > Integrated circuits |
| ID Code: | 29170 |
| Deposited On: | 17 Mar 2015 16:49 |
| Last Modified: | 10 Dec 2018 14:58 |
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