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Crecimiento epitaxial de yeso sobre anhidrita: Estudio in situ mediante microscopía de fuerza atómica (AFM)
Epytaxial growth of gypsum over anhydrite: An in situ study using atomic force microscopy (AFM)

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Pina Martínez, Carlos Manuel y Becker, U. y Fernández-Díaz, Lourdes (2000) Crecimiento epitaxial de yeso sobre anhidrita: Estudio in situ mediante microscopía de fuerza atómica (AFM). Cuadernos do Laboratorio Xeolóxico de Laxe, 25 . pp. 31-33. ISSN 0213-4497

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URL Oficial: http://www.iux.es/?page=5&serie=1





Tipo de documento:Artículo
Palabras clave:Microscopía de fuerza atómica; Yeso;
Palabras clave (otros idiomas):Microscopía electrónica de barrido; Gypsum
Materias:Ciencias > Geología > Mineralogía
Código ID:35508
Depositado:03 Feb 2016 12:02
Última Modificación:11 Dic 2018 08:47

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