Publication: Emulación de los efectos de la radiación ionizante en dispositivos analógicos mediante láser pulsado de femtosegundo sintonizable
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2011-05-05
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Universidad Complutense de Madrid, Servicio de Publicaciones
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Abstract
Actualmente, uno de los grandes retos de la industria espacial electrónica es la selección de componentes espaciales capaces de soportar las continuas radiaciones que sufren los componentes electrónicos y que pueden alterar seriamente su comportamiento eléctrico llegando, en el peor de los casos, a inutilizar equipos y sistemas, El empleo de nuevos materiales semiconductores para optimizar el consumo y mejorar el rendimiento, así como el incremento en la capacidad de integración, han contribuido a aumentar considerablemente el umbral de sensibilidad de los componentes electrónicos a estos efectos, Según los estándares de radiación actuales, la caracterización de los componentes electrónicos debe hacerse frente a haces de partículas producidos en aceleradores lineales, generalmente de elevado coste y disponibilidad limitada, Ante estos problemas, recientes estudios se están centrando en la búsqueda de modos alternativos de ensayo o Simulación válidos para la caracterización de componentes electrónicos en lo relativo a su sensibilidao a las radiaciones cósmicas. El presente trabajo propone el estudio de un método alternatívo (económico, sencillo y eficaz) que produce los efectos transitorios provocados por partículas energéticas procedentes de la radiación cósmica ionizante sobre los componentes electrónicos. Ese método está basado en la irradiación de los dispositivos electrónicos con pulsos láseres de suficiente energía, frecuencia, amplitud, duración y tamaño de impacto como para provocar en los dispositivos efectos similares a los producidos por partículas energéticas procedentes del cosmos. El sistema láser de emulación de entorno espacial se convierte así en una herramienta de generación de fallos sobre díspositivos electrónicos de alto interés en tecnología electrónica espacial. La producción de fallos en un dispositivo electrónico, emulando su comportamiento en un ambiente de radiación espacial, es el paso inicial para el estudio posterior de su comportamiento, mitigación de errores o protección del dispositivo ante estos eventos