Universidad Complutense de Madrid
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Crecimiento epitaxial de yeso sobre anhidrita: Estudio in situ mediante microscopía de fuerza atómica (AFM)
Epytaxial growth of gypsum over anhydrite: An in situ study using atomic force microscopy (AFM)

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Pina Martínez, Carlos Manuel and Becker, U. and Fernández Díaz, Lurdes (2000) Crecimiento epitaxial de yeso sobre anhidrita: Estudio in situ mediante microscopía de fuerza atómica (AFM). Cuadernos do Laboratorio Xeolóxico de Laxe, 25 . pp. 31-33. ISSN 0213-4497

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Official URL: http://www.iux.es/?page=5&serie=1





Item Type:Article
Uncontrolled Keywords:Microscopía de fuerza atómica; Yeso;
Palabras clave (otros idiomas):Microscopía electrónica de barrido; Gypsum
Subjects:Sciences > Geology > Mineralogy
ID Code:35508
Deposited On:03 Feb 2016 12:02
Last Modified:08 Apr 2021 07:35

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